高加速應力試驗
高加速應力試驗是IBM公司的Gunn、Malik和Mazumdar于1981年首次提出的一個全新的試驗方法[ 30 ] 。高加速應力試驗是在電子技術(shù)高速發(fā)展的基礎(chǔ)上出現(xiàn)的。它主要用來代替?zhèn)鹘y(tǒng)的85℃/85%RH的溫度/濕度(Temperature Humidity Bias , THB)試驗,能夠大量縮短試驗時間。如THB 需要花費1000 h才能完成的試驗,采用HAST只需96～100h。正是由于HAST的上述優(yōu)點,近些年來,越來越受到人們的歡迎,國外有些公司開始用HAST代替?zhèn)鹘y(tǒng)的THB試驗[ 31 ] 。至今,我國還沒有開展高加速應力試驗研究的報道。
 研究展望
加速可靠性試驗能夠縮短試驗周期,使產(chǎn)品進行市場的周期大大縮短。根據(jù)對各類加速可靠性試驗公開發(fā)表文獻的分析,結(jié)合我國的技術(shù)水平和研究現(xiàn)狀,對我國加速可靠性試驗的研究提出以下幾點建議。
1) 積極開展高加速應力試驗研究,爭取替代傳統(tǒng)的溫度/濕度試驗。
2) 對可靠性強化試驗的關(guān)鍵技術(shù)如試驗指南、相關(guān)設(shè)備研制、試驗數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析等方面進行進一步深入研究,
3) 對復雜系統(tǒng)的加速壽命試驗進行進一步的探討,對加速壽命試驗的統(tǒng)計分析精度、試驗效率、優(yōu)化設(shè)計問題進行進一步深入研究。
4) 進一步推進加速可靠性試驗技術(shù)的工程應用研究