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    光學儀器環(huán)境砂塵試驗方法

    文章出處:正航儀器 責任編輯: 發(fā)表時間:2015-02-05
    1、試驗目的:研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學等專特性受到砂塵塵影響的變化程度,特別是研究運動部件(如滑動面、軸承、接觸器、控制裝置、齒輪)的故障或不能允許的表面磨損。本試驗不用來確定對相粒砂塵的耐磨性。
    2、試驗條件
    a.暴露期間,光學表面應用各種措施防止砂塵的影響,如防塵罩。若試樣在暴露時光學表面不必罩蓋,則應在有關標準中加以說明。
    b.試驗箱(室)應具有一定的空間以保證試樣的占有面積不大于試驗箱(室)橫截面積(與空氣流動方向垂直的面積)的50%.體積不超過試驗箱(室)有效體積的50% 。
    c.礦物砂塵應由邊緣銳利的微粒組成,其中SiO2按重量應不少于97%,微粒尺寸分布和分析用的金屬絲篩網應符合下表的規(guī)定。
    光學儀器環(huán)境砂塵試驗方法
    d.試樣的位置均應與空氣流動方向垂直,并且試樣之間以及試樣與試驗箱(室)壁的距離均大于100mm,試樣的安置應使最易損表面朝著噴塵。在試驗期間試樣的位置可重新定位,以便將各個不同的表面暴露于空氣流,在有關標準中應頰覽對空氣流暴露的試樣表面的位置和數量,暴露周期應均勻分配給每一暴露面。
     
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